# PV 모듈 신뢰성 시험: 전체 목록, 각 시험이 파괴하는 것, 그리고 사내에서 실행할 수 있는 시험

> 모든 IEC 61215 및 확장 PV 모듈 신뢰성 시험, 각 시험이 파괴하는 대상, 그리고 그 배후에 있는 셀 측 대 모듈 측 고장 원인. 그리고 사내에서 시험할 수 있는 항목까지.

![PV 모듈 신뢰성 시험: 전체 목록, 각 시험이 파괴하는 것, 그리고 사내에서 실행할 수 있는 시험](https://cdn.ooitech.com/static/upload/image/20260927/ooitech-pv-module-reliability-tests-cover.webp)

- ** 2026-09-27
- ** 5 조회수
- ** [블로그](./Blog.html)

## PV 모듈 신뢰성 시험: 전체 목록, 각 시험이 파괴하는 것, 그리고 사내에서 실행할 수 있는 시험

**PV 모듈 신뢰성 시험은 고정된 가속 시험 목록으로 귀결되며, 각 시험은 모듈의 특정 부분을 파괴하도록 설계되고, 각 시험은 동일한 네 가지 측정값—IV 전력, 전계발광, 육안 검사 및 절연 저항—을 통해 판독됩니다.** IEC 61215는 인증 기준선을 설정하며, 고객 사양 및 PVEL과 같은 제3자 프로그램이 그 위에 심각도를 추가합니다. 아래는 전체 시험 목록, 각 시험이 실제로 파괴하려는 대상, 그리고 모듈의 어느 쪽—셀 또는 라미네이트—이 보통 먼저 고장 나는지입니다.

## 먼저 읽어야 할 사항: 약어는 표준이 아닙니다

표로 들어가기 전에, 조달 회의에서 많은 혼란을 줄여줄 한 가지 경고가 있습니다. 이 시험들에 대한 업계 약어는 일관성 없이 사용되며, 일부는 참조한다고 주장하는 표준과 모순됩니다.

IEC 61215-2는 절차를 MQT 항목으로 번호를 매깁니다. 관련된 항목은 다음과 같습니다:

| IEC 61215-2 절차 | MQT 번호 |
| --- | --- |
| 핫 스팟 내구성 시험 | MQT 09 |
| 열 사이클링 시험 | MQT 11 |
| 습도-동결 시험 | MQT 12 |
| 습열 시험 | MQT 13 |
| 습윤 누설 전류 시험 | MQT 15 |
| 기계적 하중 시험 | MQT 16 |
| 우박 시험 | MQT 17 |
| 바이패스 다이오드 열 시험 | MQT 18 |

이제 동일한 시험이 견적 패키지와 내부 보고서에서 일반적으로 어떻게 작성되는지 비교해 보십시오:

- **HF** 는 일상적으로 *우박*을 의미하는 데 사용됩니다. IEC 61215에서 HF는 **습도-동결** 사이클(MQT 12)입니다. 우박 충격은 MQT 17이며 HF 지정이 없습니다.
- **DH** 는 때때로 *동결 단계가 있는 습열*을 의미하는 데 사용됩니다. 습열은 MQT 13이고, 동결 단계는 별도의 습도-동결 시험(MQT 12)입니다.
- **HS** 는 *핫 스팟* 및 *과*습도 침지

모두에 사용되며, 습도 침지는 IEC 61215 절차 이름이 전혀 아닙니다—표준의 습열 절차는 DH입니다. **이 중 어느 것도 지나친 규칙주의가 아닙니다. 시험 사양에 HF라고 쓰여 있고 공급업체는 이를 습도-동결로 읽고 고객은 우박으로 읽는다면, 그 차이는 견적서가 아니라 인증 보고서에서 발견하게 될 것입니다.**

## 약어가 아니라 MQT 번호를 쓰십시오.

| 인증 시험 | 시험 | 시뮬레이션 대상 | 일반적 심각도 |
| --- | --- | --- | --- |
| IEC 참조 | 열 사이클링(TC) | 주야 및 계절 온도 변화 | MQT 11 |
| −40 °C ~ +85 °C; 인증에는 200 사이클, 스크리닝에는 50 사이클 | 습도-동결(HF) | 습기가 있는 상태의 동결-해동 | MQT 12 |
| 습기 노출 후 동결 단계가 있는 사이클 | 습열(DH) | 덥고 습한 해안 또는 열대 기후 | MQT 13 |
| 85 °C / 85 %RH에서 1,000 h; 고객은 종종 2,000 h로 연장 | 핫 스팟 내구성 | 부분 음영으로 셀이 역바이어스에 강제됨 | MQT 09 |
| 1 sun에서 5 h 동안 부분 음영된 셀 하나 | 우박 충격 | 얼음으로 인한 기계적 충격 | MQT 17 |
| 정의된 충격 지점에서 지정된 얼음 공 질량 및 속도 | 기계적 하중 | 라미네이트에 가해지는 바람 및 눈 압력 | MQT 16 |
| 전면 및 후면에 균일 하중, 일반적으로 2,400 Pa 이상 | UV 전처리 | 수년간의 자외선 노출 | 정의된 UV 선량, 양면형의 경우 전면 및 후면 |
| IEC 61215-2 | 습윤 누설 전류 | 습한 조건에서의 절연 무결성 | MQT 15 |
| 모듈을 적신 상태에서 측정한 절연 저항 | 바이패스 다이오드 열 | 지속적인 바이패스 전류 하의 다이오드 발열 | MQT 18 |

온도 모니터링과 함께 다이오드에 강제 전류 인가 **이 목록에 대해 두 가지는 분명히 말할 가치가 있습니다. TC50은 내부 개발을 위한 스크리닝 시험이고,** TC200이 인증에 요구되는 것입니다.

## 그리고 DH1000은 인증 기준선입니다—고객이 DH2000을 요청하는 것은 두 배의 노출을 요청하는 것이며, 이는 서류 작업이 아니라 실제 엔지니어링 차이입니다.

확장 및 시장별 시험

| 인증 시험 | 이들은 IEC 61215 인증 요구사항이 아닙니다. 제3자 프로그램, 고객 사양 또는 목적지 시장에서 비롯되며, 많은 입찰 요구사항이 실제로 여기에 있습니다. | 요청되는 이유 |
| --- | --- | --- |
| 비고 | PID, 연장된 기간 | 고전압 시스템 스트레스, 나트륨 이온 이동 |
| 제3자 프로그램은 일반적으로 85 °C / 85 %RH에서 −1,000 V 또는 −1,500 V를 인가하여 192 h 동안 실행하며, 이는 표준의 더 짧은 기간에 대비됩니다. 유틸리티 규모 입찰에서 자주 요구됨 | 습열, 연장 | 인증 노출의 두 배 |
| 염수 분무 부식 | 해안 및 해상 설치 | IEC 61701 — 금속화, 프레임 및 상호 연결부를 공격 |
| 암모니아 부식 | 농업 및 축산 인접 부지 | IEC 62716 — 금속화, 봉지재 및 프레임을 공격 |
| 모래와 먼지 | 사막 및 건조 지역 | 반사 방지 코팅과 유리의 마모, 그리고 축적 |
| 적설 하중 | 지속적인 정적 하중, 반복적이지 않음 | 반복적인 사이클링이 아닌 장시간 정적 처짐 |
| 침지식 | 홍수 위험 및 부유식 응용 | 완전한 밀봉 실패가 고장 모드 |
| 임펄스 / 서지 | 낙뢰 유도 과도 현상 | 정션 박스 보호 및 절연 이격 |

## 실제로 고장 나는 것: 셀 측 대 모듈 측

이 부분이 생산에서 가장 중요한데, 고장이 셀 공급업체를 가리키는지 자체 라미네이션 및 조립 라인을 가리키는지 알려주기 때문입니다. 아래 표는 이러한 테스트에 관한 중국 산업 편찬물에 보고된 고장 원인을 테스트별로 재구성하여 통합한 것입니다.

| 인증 시험 | 셀 측 원인 | 모듈 측 원인 |
| --- | --- | --- |
| 광 유도 열화(LID) | 붕소 도핑 실리콘에서 빛에 의해 활성화되는 붕소-산소 복합체; 높은 산소 함량; 소결 및 어닐링 오프-윈도우; 웨이퍼 내 금속 오염 | 셀의 어닐링 상태를 변화시키는 라미네이션 및 경화 온도; 결함 활성화를 가속하는 라미네이트 내 불리한 수소 환경 |
| LeTID, 후기 열화 | 웨이퍼 내 수소 분포; 소결 및 어닐링 파라미터 드리프트; 탄소 및 금속 오염 | 추가 수소를 공급하는 봉지재 분해; 반응을 가속하는 지속적인 높은 작동 온도 |
| PID | 치밀화가 불량하거나 핀홀이 있는 패시베이션 층; 가장자리 누출을 유발하는 불완전한 가장자리 절연; 불충분한 패시베이션 절연 저항 | 소다 석회 유리에서 방출되는 나트륨; 낮은 봉지재 체적 저항률; 수분 침투를 허용하는 가장자리 밀봉 실패; 불충분한 프레임 접지 |
| 습열 | 약한 가장자리 패시베이션; 부식되기 쉬운 금속화; 불충분한 가장자리 절연 | 불량한 백시트 수분 장벽; 가장자리 밀봉재 실패; 아세트산을 생성하는 봉지재 가수분해; 불완전한 라미네이션으로 남은 보이드 |
| 핫 스팟 | 높은 역방향 누설 전류; 오염 또는 국부적 저전류 영역; 전류 불일치를 생성하는 끊어진 핑거와 미세 균열 | 스트링 내 전류 불일치; 잘못된 바이패스 다이오드 선택 또는 콜드 솔더 조인트; 지속적인 외부 음영 또는 오염 |
| 미세 균열(EL로 발견) | 얇은 웨이퍼 취성; 인쇄 및 소결로 인한 잔류 응력; 절단, 분류 및 운송 중 취급 손상 | 불균일한 라미네이션 압력; 리본 솔더링으로 인한 인장 응력; 프레이밍, 취급 및 기계적 하중 중 응력; 라미네이션 후 냉각 응력 |
| UV 열화 | UV 안정성이 불충분한 반사 방지 코팅; 광 흡수를 높이는 굴절률 이동 | 봉지재 또는 백시트 내 불충분한 UV 안정제; 투과율을 감소시키는 황변; 수분을 허용하는 백시트 균열 |
| 열 사이클링 | 셀 내 잔류 응력; 금속화와 실리콘 간 열팽창 불일치 | 리본, 셀, 유리 및 봉지재 간 팽창 불일치; 응력을 집중시키는 콜드 솔더 조인트; 잔류 라미네이션 응력 |
| 1 sun에서 5 h 동안 부분 음영된 셀 하나 | 낮은 충격 강도의 얇은 웨이퍼; 도착 시 이미 존재하는 미세 균열; 잔류 공정 응력 | 불충분한 유리 두께 또는 불량한 강화; 에너지를 흡수하기에 너무 단단하거나 얇은 봉지재; 약한 프레임 지지; 부적합한 셀 간격 |
| 정의된 충격 지점에서 지정된 얼음 공 질량 및 속도 | 기존 미세 균열; 처짐 하에서 낮은 웨이퍼 강도 | 부적절한 프레임 강도 또는 접합; 불량한 셀 간격 설계; 불충분한 백시트 강성; 내부 라미네이션 응력 |
| 염수 분무 | 염화물 공격에 취약한 은 및 은-알루미늄 핑거; 약한 가장자리 보호; 낮은 소결 페이스트 밀도 | 손상된 프레임 아노다이징; 프레임 또는 백시트 밀봉 실패; 정션 박스 밀봉 결함; 리본 코팅 부식 |
| 암모니아 | 암모니아와 수분 하에서 금속화 및 패시베이션 열화 | 봉지재 및 백시트 투과성; 프레임 및 재료 반응; 가속된 가수분해 |
| 습식 누설 및 절연 | 불완전한 가장자리 절연; 불충분한 가장자리 절연; 부분 방전을 유발하는 버 및 날카로운 가장자리 | 불충분하거나 핀홀의 영향을 받는 절연 층; 과도한 프레임 접지 저항; 정션 박스 내 부적절한 연면 거리 |
| 박리 및 접착 | 셀 코팅의 낮은 표면 에너지로 인한 약한 봉지재 접착 | 목표 미만의 라미네이션 온도, 시간 또는 압력; 불량한 유리 또는 백시트 표면 준비; 봉지재 제형 불일치 |

두 열을 읽어 내려가면 구분이 일관됩니다: **셀 열은 재료 품질과 열 이력에 관한 것이고, 모듈 열은 인터페이스, 밀봉, 응력 및 공정 윈도우에 관한 것입니다.** 이것이 이 표가 실제로 인코딩하는 실용적인 진단 규칙입니다.

## 사내에서 테스트할 수 있는 것과 할 수 없는 것

대부분의 공장은 신뢰성 테스트를 실험실에서 일어나는 일로 취급합니다. 실제로 구분은 다르며, 경계가 어디에 있는지 알면 고장에 얼마나 빨리 대응할 수 있는지가 달라집니다.

### 챔버 또는 실험실이 필요한 테스트

열 사이클링, 습도-동결, 습열, PID, 염수 분무, 암모니아 및 UV 전처리는 모두 교정된 제어와 장시간 무인 운전 시간을 갖춘 환경 챔버가 필요합니다. 아무도 이를 일일 생산 점검으로 실행하지 않습니다.

### 라인에서 실행할 수 있고 실행해야 하는 테스트

판독 측정값 — 위의 모든 테스트가 판정 기준으로 삼는 네 가지 — 은 모두 생산에 적용 가능합니다:

- **IV 전력 및 전기적 성능.** A+A+A+ 등급 시뮬레이터와 IV 테스터는 모든 테스트 결과가 기준으로 삼는 전력 측정값을 제공합니다. 당사의 [XJCM-13A+ 모듈 IV 테스터](/XJCM-13A2615-High-Efficiency-Solar-Module-IV-Tester-Advanced-Testing-Solution-for-PERC-HJT-TopCon-IB.html), [OTMT-A 태양광 시뮬레이터](/solar-panel-tester-sun-simulator-otmt-a-aaa-class-solar-module-iv-tester-ooitech.html) 및 [ST-TLD3A+ IV 테스터](/Solar-Panel-IV-Tester-ST-TLD3A-SMTL-V21-3A-Professional-PV-Module-Testing-Equipment.html) 는 생산 속도에 맞춰 인라인 또는 오프라인으로 사용할 수 있도록 제작되었습니다.
- **전계발광.** EL은 미세 균열, 끊어진 핑거, 비활성 영역 및 PID 영향을 받은 셀을 실제로 찾아내는 방법입니다. 인라인 EL 및 VI 검사, 독립형 모듈 EL 스테이션(예: [OEL-S2400](/solar-panel-el-defect-tester-oel-s2400-electroluminescence-testing-machine-for-solar-module-quality-inspection.html), 그리고 현장 또는 입고 검사를 위한 휴대용 장치는 서로 다른 세 가지 작업입니다. [휴대용 EL 테스터](/portable-hd-el-tester-for-solar-module-inspection.html) 는 라인을 멈추지 않고 입고 셀과 반품 모듈을 확인할 때 사용합니다.
- **절연, 히포트 및 접지 연속성.** 이들은 안전 판독값이며, 모듈당 실행할 수 있을 만큼 빠릅니다. [CHT9980A 종합 안전 테스터](/cht9980a-cht9981a-pv-safety-comprehensive-tester-solar-panel-hipot-insulation-ground-continuity-tester.html) 는 히포트, 절연 및 접지 연속성을 한 스테이션에서 처리하며, [CHT9951A](/cht9951a-cht9951b-solar-panel-hipot-insulation-resistance-tester-pv-module-safety-testing-equipment.html) 및 [CHT9930A](/cht9930a-solar-module-ground-continuity-tester-dc-5-60a-programmable-grounding-resistance-test-equipment-ooitech.html) 는 개별 기능을 담당합니다.
- **육안 검사.** 여전히 필수 판독값이며, 여전히 가장 저렴한 방법입니다.

### 자체 테스트가 실제로 비용을 회수하는 경우

두 가지 상황이 있습니다. 첫째, 고객이 모듈을 반품하거나 목적지에서 배치가 불합격할 때: 자체 EL 및 IV 역량이 있으면 샘플을 보내고 기다리는 대신 몇 시간 만에 불량을 특성화할 수 있습니다. 둘째, 재료를 변경할 때 — 새로운 봉지재, 더 얇은 웨이퍼, 다른 리본 — 자체 라인에서 전후 IV 및 EL 비교를 통해 공정 관련 불량 모드(라미네이션 보이드, 솔더 응력, 취급 균열)를 챔버 테스트보다 훨씬 일찍 잡아낼 수 있습니다.

자체 테스트가 할 수 없는 것은 챔버 테스트를 대체하는 것입니다. 무언가 변경되었음을 알려줄 수는 있지만, 85 °C 및 85 %RH에서 1,000시간 후 모듈이 어떻게 거동하는지는 알려주지 못합니다.

## 신뢰성 보고서를 읽는 방법

어떤 테스트든, 보고서는 다음 질문에 답할 때만 의미가 있습니다:

1. **어떤 절차와 어떤 개정판인가?** MQT 번호와 표준 연도. IEC 61215-2는 개정되었으며, 개정판 간 결과는 호환되지 않습니다.
2. **전후 네 가지 판독값은 무엇이었는가?** IV 전력, EL, 육안, 절연 저항. 전력만 합격하면 현장 불량을 예측하는 EL 변화를 숨길 수 있습니다.
3. **합격 기준은 무엇이었고, 누가 설정했는가?** 표준 기준과 고객 기준은 보통 다릅니다. 5 %의 전력 저하 한계가 일반적이지만 보편적이지는 않습니다.
4. **샘플 수는 몇 개이며, 어느 생산 기간의 것인가?** 한 오후에 생산된 세 개 모듈의 결과는 그 오후의 샘플일 뿐입니다.
5. **불량이 있었다면 무엇이었고, 표의 어느 쪽에 해당하는가?** 여기서 위의 셀 대 모듈 구분이 유용해집니다: 누가 조치해야 하는지 알려줍니다.

## 자주 묻는 질문

### IEC 61215는 신뢰성 표준인가 안전 표준인가?

IEC 61215는 설계 검증 및 형식 승인입니다 — 나열된 스트레스를 견딜 수 있는 설계임을 입증합니다. 안전은 IEC 61730입니다. 모듈에는 둘 다 필요하며, 하나의 합격이 다른 하나에 대해 아무것도 말해주지 않습니다.

### TC50과 TC200의 차이는 무엇인가?

사이클 수만 다르지만 목적이 다릅니다. TC50은 명백한 재료 및 솔더 문제를 신속하게 잡기 위한 개발 및 스크리닝 테스트입니다. TC200은 IEC 61215에 따른 검증 요구사항입니다. TC50 합격이 TC200 합격을 의미하지는 않습니다.

### 표준이 더 짧은데 고객이 왜 192시간에서 PID를 요구하는가?

표준 기간이 검증 최소 기준으로 설정되었고, 유틸리티 규모 구매자들이 최소 수준 테스트로 예측하지 못한 현장 PID 불량을 목격했기 때문입니다. 보통 고전압 및 85 °C / 85 %RH에서의 확장 PID는 IEC 요구사항이 아니라 고객 또는 제3자 프로그램 요구사항입니다.

### N형 모듈에서 LID가 중요한가?

붕소-산소 LID는 주로 붕소 도핑 P형 문제입니다. TOPCon 및 이종접합과 같은 N형 셀은 대부분 이 문제에서 자유로운데, 이것이 업계가 전환한 이유 중 하나입니다. N형에서 주시해야 할 열화 메커니즘은 LeTID이며, 붕소-산소 복합체가 아닌 수소 거동이 손실을 유발합니다.

### 챔버 없이 모듈을 검증할 수 있는가?

아니요. 챔버 테스트가 검증입니다. 챔버 없이 할 수 있는 것은 EL과 IV로 공정 유발 불량 모드를 조기에 감지하고, 고객이 실행할 챔버 테스트에서 불합격할 모듈의 출하를 피하는 것입니다.

### 이 글의 불량 원인 내용은 어디에서 왔는가?

통합 테스트 목록과 셀 측 대 모듈 측 불량 원인은 [新能供应链](https://mp.weixin.qq.com/s/KBmyvBWT8UkfGYPIZt8H0A)에서 발행한 중국 업계 편집물에서 가져왔으며, 표준 명칭은 IEC 61215-2 절차 목록에 맞게 수정했습니다. 여기 인용된 심각도 수치와 합격 기준은 일반적인 업계 값이며, 표준 원문이나 고객 사양을 대체하지 않습니다. 출처와 표준이 약어에서 불일치할 경우, 우리는 표준을 따랐으며 위에 그렇게 명시했습니다.

---

##### 태그:

![](/template/ooitech/assets/img/shape/06.png)

![](https://cdn.ooitech.com/runtime/image/w800_h700_fitblur_v2_w800_h700_fitblur_v2_1757399770541443.webp)

### 견적 요청

모든 업로드는 안전하고 기밀로 유지됩니다.

## 우리는 제공합니다 신뢰할 수 있는 전문성 우리의 서비스

공장 직송 장비.

![](/template/ooitech/assets/img/icon/money-2.svg)

### 비용 효율적인 이점

우리는 탁월한 가치를 제공하며, 고객의 예산을 최적화하면서 결과를 극대화합니다.

![](/template/ooitech/assets/img/icon/staff.svg)

### 우리의 경험 많은 팀

우리의 숙련된 전문가들은 혁신적인 솔루션과 맞춤형 전략을 전문으로 합니다.

![](/template/ooitech/assets/img/icon/certified.svg)

### 15년 이상의 업계 경험

깊은 전문성은 신뢰할 수 있고, 트렌드를 반영하며, 검증된 결과를 보장합니다.

![](https://cdn.ooitech.com/static/upload/image/20250910/1757477357667605.webp )

![](https://cdn.ooitech.com/static/upload/image/20250910/1757477724911512.webp)

![](/template/ooitech/assets/img/shape/06.png)

## 고객님들의 말씀 저희에 대해

고객 후기는 우리가 그들의 과제를 깊이 이해하고 있으며, 이는 혁신적인 솔루션과 높은 ROI로 이어진다는 점을 칭찬합니다. 10년 이상 지속된 장기 협력 관계는 그들의 신뢰와 만족을 보여줍니다. 그들의 성공 사례는 우리가 지속적으로 기대를 뛰어넘도록 만듭니다. [더 알아보기 **](#quote-form)

![](/template/ooitech/assets/img/icon/quote.svg)

고도로 적합한 BC 태양전지 실험 장비를 제공해 주신 Ooitech에 감사드립니다.

![](https://cdn.ooitech.com/runtime/image/w800_h600_fitblur_v2_1776426122864564.webp)

### KTECH

![](/template/ooitech/assets/img/icon/quote.svg)

공장을 개선하고 수리하며 작업자들에게 기계 사용법을 가르쳐 주신 큰 도움에 다시 한번 정말 감사드립니다.

![](https://cdn.ooitech.com/runtime/image/w800_h600_fitblur_v2_1757479675272137.webp)

### 마크

BIPV 필리핀

![](/template/ooitech/assets/img/icon/quote.svg)

큰 마음을 가진 분이십니다. 방문해 주셔서 정말 감사합니다, 우 씨. 장비 설치와 제 학생들 교육에 제공해 주신 서비스에 정말 감사드립니다. 가장 친절하고 전문적인 분이십니다.

![](https://cdn.ooitech.com/runtime/image/w800_h600_fitblur_v2_2026041716444445.webp)

### 지자흐 폴리테크닉 연구소

![](/template/ooitech/assets/img/icon/quote.svg)

ooitech의 전문적인 지원과 정시 애프터 서비스에 감사드립니다.

![](https://cdn.ooitech.com/runtime/image/w800_h600_fitblur_v2_1784509010217979.webp)

### 아프리카에서 온 디아라

![](/template/ooitech/assets/img/icon/quote.svg)

Ooitech가 완전 자동화된 생산 장비를 제공해 주셔서 감사합니다. 설치 및 애프터서비스가 훌륭했습니다.

![](https://cdn.ooitech.com/runtime/image/w800_h600_fitblur_v2_2026041720921238.webp)

### 암자드

## 최신 제품

![OPT-S110H 오프라인 스트링 EL 테스터: ≤2s, 4.6MP](https://cdn.ooitech.com/runtime/image/w800_h600_fitblur_v2_1774350940561245.webp)

- [** Rachael](./offline-string-el-tester-opt-s110h-solar-cell-string-electroluminescence-testing-equipment-ooitech.html)
- [** 88185](./offline-string-el-tester-opt-s110h-solar-cell-string-electroluminescence-testing-equipment-ooitech.html)

### OPT-S110H 오프라인 스트링 EL 테스터: ≤2s, 4.6MP

Ooitech의 OPT-S110H 오프라인 스트링 EL 테스터는 최대 1250mm의 태양전지 스트링에 대해 고속 전계발광 검사를 제공합니다.

![태양광 패널 프레임 장착기: ±1mm, 2000x1100mm](https://cdn.ooitech.com/runtime/image/w800_h600_fitblur_v2_1774608426614052.webp)

- [** Rachael](./solar-panel-framing-machine-with-punching-function-and-otzk-a-full-automatic-framing-machine-with-auto-dispensing-glue-ooitech.html)
- [** 20198](./solar-panel-framing-machine-with-punching-function-and-otzk-a-full-automatic-framing-machine-with-auto-dispensing-glue-ooitech.html)

### 태양광 패널 프레임 장착기: ±1mm, 2000x1100mm

Ooitech는 유압 펀칭 프레이밍 머신과 OTZK-A 완전 자동 프레이밍 머신을 포함한 고성능 태양광 패널 프레이밍 머신을 제공합니다

![ST-TLD3A+ IV 테스터 – PV 모듈 플래시 및 성능](https://cdn.ooitech.com/runtime/image/w800_h600_fitblur_v2_1774514799764615.webp)

- [** Rachael](./Solar-Panel-IV-Tester-ST-TLD3A-SMTL-V21-3A-Professional-PV-Module-Testing-Equipment.html)
- [** 38150](./Solar-Panel-IV-Tester-ST-TLD3A-SMTL-V21-3A-Professional-PV-Module-Testing-Equipment.html)

### ST-TLD3A+ IV 테스터 – PV 모듈 플래시 및 성능

ST-TLD3A+ / SMTL-V21.3A+ 태양광 IV 테스터 – A+ 스펙트럼, 모노, 폴리, TOPCon, HJT, IBC 및 박막 테스트. 전체 모듈에 대한 정확한 I-V/P-V 곡선

![OEL-S2400 태양광 패널 EL 테스터: 4928 x 3264px](https://cdn.ooitech.com/runtime/image/w800_h600_fitblur_v2_1774351284414161.webp)

- [** Rachael](./solar-panel-el-defect-tester-oel-s2400-electroluminescence-testing-machine-for-solar-module-quality-inspection.html)
- [** 60669](./solar-panel-el-defect-tester-oel-s2400-electroluminescence-testing-machine-for-solar-module-quality-inspection.html)

### OEL-S2400 태양광 패널 EL 테스터: 4928 x 3264px

Ooitech OEL-S2400 태양광 패널 EL 결함 테스터는 미세 균열, 블랙 스팟을 검출하도록 설계된 오프라인 전계발광 테스트 기계입니다

![저철분 강화 태양광 유리: AR 코팅 적용 93.5%](https://cdn.ooitech.com/runtime/image/w800_h600_fitblur_v2_1774514074283403.webp)

- [** ooitech](./Solar-Glass-Ultra-Clear-Low-Iron-Tempered-Glass-for-Photovoltaic-Modules.html)
- [** 47062](./Solar-Glass-Ultra-Clear-Low-Iron-Tempered-Glass-for-Photovoltaic-Modules.html)

### 저철분 강화 태양광 유리: AR 코팅 적용 93.5%

PV 모듈용 태양광 강화 유리: 초투명 저철분 유리와 반사 방지 코팅으로 G1/M6/M10/M12 사이즈에서 91.5%+ 광투과율 달성.

![프레임 접착 및 J-Box 접착기: 2500mm 스트로크](https://cdn.ooitech.com/runtime/image/w800_h600_fitblur_v2_1774497599314364.webp)

- [** Rachael](./automatic-frame-gluing-machine-and-junction-box-glue-machines-ooitech-solar-panel-production-line-equipment.html)
- [** 51602](./automatic-frame-gluing-machine-and-junction-box-glue-machines-ooitech-solar-panel-production-line-equipment.html)

### 프레임 접착 및 J-Box 접착기: 2500mm 스트로크

Ooitech는 미국 ARO 펌프와 GRACO PCF 시스템을 갖춘 전문 자동 프레임 글루잉 머신(SPZ-2400GS-T2-Y2)을 제공합니다